已200G QSFPDD PSM8為例，梳理下測試光模塊性能指標(biāo)和測試方法：

1. Management Timing performance

1.1 IntL Assert Time

測試要求：需要測試的時間是光模塊在Rx光信號丟失也就是RX LOS比特位置1和中斷IntL由高拉低的時間。

測試方法：將光模塊插入測試板中，使用示波器兩個探頭，一個接測試板上的SDA腳，一個點擊測試板上的INTL點，使用對應(yīng)的GUI將其他標(biāo)志mask后去掉需要斷開通道的RX LOS的mask勾選再讀取page11h，0x93這一個地址的值，此時測試板上IntL燈滅（IntL高電平），再將RX光纖連接的一個通道斷開，讀取0x93地址觸發(fā)SDA，此時測試板上IntL燈亮（IntL低電平）報RX LOS觸發(fā)IntL。

測試結(jié)果:

測試圖片:

1.2 IntL Deassert Time

測試要求：需要測試的時間是光模塊在Rx光信號恢復(fù)和中斷IntL由低到高的時間。

測試方法：將光模塊插入測試板中，使用示波器兩個探頭，一個接測試板上的SDA腳，一個點擊測試板上的INTL點，使用對應(yīng)的GUI將其他標(biāo)志mask后去掉需要斷開通道的RX LOS的mask勾選再讀取page11h，0x93這一個地址的值，此時測試板上IntL燈亮（IntL低電平），再將RX光纖斷開的一個通道連接，讀取0x93地址觸發(fā)SDA，此時測試板上IntL燈滅（IntL高電平）將RX恢復(fù)信號觸發(fā)IntL。

測試結(jié)果:

測試圖片:

1.3 Rx LOS Assert Time

測試要求：需要測試的時間是光模塊在在檢測到光信號丟失后，將Rx-LOS位設(shè)置為1并將IntL拉低所花費的時間。

測試方法：將光模塊插入測試板中，使用分光器將需要測試的一個通道的接收端接入到分光器的OUT，拔分光器的IN端進(jìn)行觸發(fā)。

測試結(jié)果:

測試圖片:

1.4 TX Squelch Assert Time

測試要求：需要測試的時間是光模塊從Tx輸入信號丟失到squelched輸出條件達(dá)到的時間。

測試方法：將光模塊插入測試板中，使用分光器，將需要測試通道的發(fā)射端接入分光器的OUT（light_out），使用示波器兩個探頭，一個接測試板上的SDA腳，一個連接分光器，點擊GUI中的Ctrl頁的TX Force Squlch功能對應(yīng)的測試通道（勾選此功能）進(jìn)行觸發(fā)。

測試結(jié)果:

測試圖片:

1.5 Tx Squelch Deassert Time

測試要求：需要測試的時間是光模塊從Tx輸入信號恢復(fù)到達(dá)到正常Tx輸出狀態(tài)的時間。

測試方法：將光模塊插入測試板中，使用分光器，將需要測試通道的發(fā)射端接入分光器的OUT（light_out），使用示波器兩個探頭，一個接測試板上的SDA腳，一個連接分光器，點擊GUI中的Ctrl頁的TX Force Squlch功能對應(yīng)的測試通道（去掉勾選此功能）進(jìn)行觸發(fā)。

測試結(jié)果:

測試圖片:

1.6 Tx Disable Assert Time

測試要求：需要測試的時間是光模塊從Tx禁用位清除到0到光輸出超過標(biāo)稱的90%的時間。

測試方法：將光模塊插入測試板中，使用分光器，將需要測試通道的發(fā)射端接入分光器的OUT（light_out），使用示波器兩個探頭，一個接測試板上的SDA腳，一個連接分光器，點擊GUI中的Ctrl頁的TX Disable功能對應(yīng)的測試通道（勾選此功能）進(jìn)行觸發(fā)。 測試結(jié)果:

測試圖片:

1.7 TX Disable Deassert Time

測試要求：需要測試的時間是光模塊從Tx禁用位設(shè)置為1到光輸出低于標(biāo)稱值的10%的時間。

測試方法：將光模塊插入測試板中，使用分光器，將需要測試通道的發(fā)射端接入分光器的OUT（light_out），使用示波器兩個探頭，一個接測試板上的SDA腳，一個連接分光器，點擊GUI中的Ctrl頁的TX Disable功能對應(yīng)的測試通道（去掉勾選此功能）進(jìn)行觸發(fā)。 測試結(jié)果:

測試圖片:

1.8 RX Output Disable Assert Time

測試要求：需要測試的時間是光模塊從Rx輸出禁用位清除到0，直到Rx輸出超過標(biāo)稱值的90%的時間。

測試方法：將光模塊插入測試板中，使用分光器，將需要測試通道的發(fā)射端接入分光器的OUT，使用示波器兩個探頭，一個接測試板上的SDA腳，一個連接測試板上RX信號的中心點上（RX_DATA_OUT），點擊GUI中的Ctrl頁的RX Output Disable功能對應(yīng)的測試通道（勾選此功能）進(jìn)行觸發(fā)。 測試結(jié)果:

測試圖片:

1.9 RX Output Disable Deassert Time

測試要求：需要測試的時間是光模塊從Rx輸出禁用位設(shè)置為1到Rx輸出降到額定值的10%以下的時間。

測試方法：將光模塊插入測試板中，使用分光器，將需要測試通道的發(fā)射端接入分光器的OUT，使用示波器兩個探頭，一個接測試板上的SDA腳，一個連接測試板上RX信號的中心點上（RX_DATA_OUT），點擊GUI中的Ctrl頁的RX Output Disable功能對應(yīng)的測試通道（去掉勾選此功能）進(jìn)行觸發(fā)。 測試結(jié)果:

測試圖片:

1.10 Mask Assert Time

測試要求：需要測試的時間是光模塊從各標(biāo)志的掩碼位集設(shè)置為1直到IntL中斷由低變高的時間。

測試方法：光模塊插入測試板中，使用示波器兩個探頭，一個接測試板上的SDA腳，一個點擊測試板上的INTL點，通過GUI頁面點擊相應(yīng)標(biāo)志的mask（勾選此功能）觸發(fā)； 測試結(jié)果:

測試圖片:

1.11Mask Deassert Time

測試要求：需要測試的時間是光模塊從各標(biāo)志的掩碼位集清除為0直到IntL中斷由高變低的時間。

測試方法：光模塊插入測試板中，使用示波器兩個探頭，一個接測試板上的SDA腳，一個點擊測試板上的INTL點，通過GUI頁面點擊相應(yīng)標(biāo)志的mask（去掉勾選此功能）觸發(fā)； 測試結(jié)果:

測試圖片:

2. I2C timing

2.1 100kHz

測試方法：用I2C管理工具將速率設(shè)置為100kHz，再讀光模塊進(jìn)行I2C時序相關(guān)測試；

測試結(jié)果：

測試圖片 (100K):

Clock Frequency	Clock Pulse Width Low
Clock Pulse Width High	START Hold Time
START Set-up Time	Data In Hold Time
Data in Set-up Time	Input Rise Time
Input Fall Time	STOP Set-up Time

2.2 400kHz

測試方法：用I2C管理工具將速率設(shè)置為400kHz，再讀光模塊進(jìn)行I2C時序相關(guān)測試；

測試結(jié)果：

測試圖片 (400K):

Clock Frequency	Clock Pulse Width Low
Clock Pulse Width High	START Hold Time
START Set-up Time	Data In Hold Time
Data in Set-up Time	Input Rise Time
Input Fall Time	STOP Set-up Time