如果光模塊的光功率不良，就會(huì)使光模塊性能下降，從而使傳輸誤碼率增加，在光模塊的使用中，如何測試光功率保證光模塊的最佳性能。光功率不良有6種現(xiàn)象，每種光功率不良現(xiàn)象對應(yīng)的的原因是什么呢？
如何測試光模塊的光功率？
當(dāng)光輸入功率在一定范圍內(nèi)時(shí)，光模塊的性能最佳。 但是如何測試接收器是否會(huì)在最低光輸入功率時(shí)，提供最佳性能呢？ 比較常用的一種測試方法就是利用光纖衰減器，測試，該過程包括如下所示的三個(gè)步驟。
1、使用功率計(jì)測量光纖發(fā)射器的光輸出功率。工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)定義了特定網(wǎng)絡(luò)標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)射器和接收器的光輸入功率。使用的接收器和發(fā)射器需匹配，發(fā)射器的光輸出功率應(yīng)在規(guī)定范圍內(nèi)。
2、將發(fā)射器連接到接收器，并在發(fā)射器可提供的最大光輸出功率下驗(yàn)證其是否正常工作。您需要以接收器可以接受的最小光輸入功率測試接收器，同時(shí)接收器仍然提供最佳性能。
3、計(jì)算測試所需的衰減水平。計(jì)算方法：發(fā)射器的光輸出功率為-15 dBm，接收器的最小光功率電平為-32 dBm。二者之間的差值為17 dB。那么就可以使用17 dB的光纖衰減器，并重新測試接收器。
測試光模塊的光功率時(shí)，可能存在6種光功率不良的現(xiàn)象，每種光功率不良現(xiàn)象對應(yīng)的的原因是什么呢？
現(xiàn)象一、光大
光大的意思是激光器偏置電流BIAS在正常范圍之內(nèi)，光功率超出了內(nèi)部控制范圍，不良原因及處理方法如下：
1、發(fā)射組件TOSA不良，處理方法是更換TOSA；
2、發(fā)射組件TOSA中，PD+管腳（背光電流腳）虛焊，處理方法是重新焊好PD+管腳；
3、功率電阻不匹配，處理方法是換大功率電阻。
與光大相反，光小指的是激光器偏置電流BIAS在正常范圍之內(nèi)，光功率低于內(nèi)控范圍。
1、發(fā)射組件TOSA不良，處理方法是更換TOSA；
2、驅(qū)動(dòng)芯片貼片不良或性能不良，處理方法是重新貼好驅(qū)動(dòng)芯片或者直接更換芯片；
3、功率電阻不匹配，處理方法是換小功率電阻。
這種無光現(xiàn)象分為兩種情況，一是無光且BIAS值顯示為0；另一種是無光，BIAS短路，數(shù)值很大顯示為90mA～150mA之間，可以保存數(shù)據(jù)。
第一種情況：
1、發(fā)射組件TOSA中PD管腳虛焊，處理方法是重新焊好該管腳。
2、驅(qū)動(dòng)芯片貼片不良或性能不良，處理方法是重新貼好驅(qū)動(dòng)芯片或者直接更換芯片；
第二種情況：
1、發(fā)射組件TOSA中LD+管腳(信號腳)虛焊，處理方法是重新焊好該管腳。
2、LD+、LD-信號線路上的磁珠不良、漏貼或貼錯(cuò)。處理方法是貼好同一型號的磁珠。
3、驅(qū)動(dòng)芯片貼片不良或性能不良。維修方法是重貼驅(qū)動(dòng)芯片或更換芯片。
4、儲存芯片引腳下的元器件(電容、電阻、電感或磁珠)不良、漏貼或貼錯(cuò)。處理方法是重新貼上同一型號的元器件。
與光大相反，光小指的是激光器偏置電流BIAS在正常范圍之內(nèi)，光功率低于內(nèi)控范圍。
1、TOSA不良，維修方法是更換TOSA。
2、TOSA管腳LD-(信號腳)虛焊，處理方法是焊好管腳。
一般情況下是TOSA不良，處理方法是更換TOSA。
激光器激發(fā)出某一波長的光，除了中心波長之外，不可避免的產(chǎn)生一個(gè)次波峰，最高波峰和次波峰的比值被稱為邊模抑制比。次波峰邊模抑制比越大，說明最高波峰和次波峰的差距越大，次波峰對中心波長的影響越小。對于邊模抑制比小的問題處理辦法就是更換TOSA。